EMC문제는 전자제품의 신뢰성 측면에서 매우 중요한 요소입니다. 제품의 설계 단계에서 CST STUDIO SUITE을 이용하여 전도성 방사(Conducted Emission, CE) 및 방사성 방사(Radiated Emission, RE)에 대한 분석 및 전도성 내성(Conducted Immunity, CI), 방사성 내성(Radiated Immunity, RI)에 대한 분석이 가능합니다. 또한 선박, 항공 우주 및 국방 분야에서 E3(Electromagnetic Environment Effects)문제인 lightning, EMP, HIRF 등에 대한 분석도 가능합니다.